|
|
Fotokatalytická aktivita tištěných hybridních vrstev oxidu titaničitého
Sýkorová, Kateřina ; Krystyník, Pavel (oponent) ; Veselý, Michal (vedoucí práce)
Cílem této práce bylo optimalizovat složení tiskové suspenze oxidu titaničitého s pojivem na bázi oxidu křemičitého, deponované na PET fólii. Hlavní důraz byl kladen na dosažení maximální možné adheze a tvrdosti vrstvy a vlivu na fotokatalytickou aktivitu. Pro hodnocení fotokatalytické aktivity byly provedeny srovnávací experimenty na připravených vrstvách. Jako modelové polutanty byly zvoleny kyselina benzoová, dimethyl sulfoxid a azobarvivo Acid Orange 7. Pomocí UV-VIS spektrofotometrie byly studovány jejich fotokatalytické aktivity a byly stanoveny formální rychlostní konstanty a stupeň konverze reakcí. Výsledky studia jsou využitelné při odstraňování vodních polutantů z vodného roztoku.
|
|
|
Příprava fotokatalyticky aktivních vrstev oxidu titaničitého
Šeffer, Lukáš ; Jančovičová, Viera (oponent) ; Veselý, Michal (vedoucí práce)
Tato bakalářská práce poskytuje přehled o metodách přípravy tenkých vrstev oxidu titaničitého a oxidu křemičitého sol-gel technikou rotačním litím, vytahováním z roztoku, válcovým a štěrbinovým nanášením, litím, nastříkáním, naprášením, chemickým napařováním a tiskem. Dále jsou diskutovány postupy přípravy složených filmů získaných smícháním solů oxidu titaničitého a oxidu křemičitého a dvouvrstvých filmů, kde se oxid titaničitý a křemičitý nanášejí odděleně. Součástí popisu přípravy vrstev je i metodika testování jejich fotokatalytické aktivity.
|
|
|
Study of optical properties of thin films of perovskiteFAPbBr3 precursors
Smolková, Denisa ; Čech, Vladimír (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
This thesis examines the preparation of thin layers of material for photovoltaic applications with focused on perovskites and determining their optical properties. Basic information about the photovoltaic panels, especially about the perovskites, and the preparation of thin layers is supplied in the theoretical section. This section includes description of optical properties and the main method of study of optical properties, spectroscopic ellipsometry. Experimental section is focused on the preparation of thin layers of perovskites FAPbBr3 and its precursors by spin-coating. Optical properties are evaluated using profilometry, UV VIS spectrometry and spectroscopic ellipsometry. The conclusion summarizes the results of this experiment with focused on comparison of ellipsometric spectrums of perovskites and its precursors.
|
|
|
Studium morfologie velmi tenkých vrstev XPS analýzou více spektrálních čar jednoho prvku
Pokorný, David ; Šik, Ondřej (oponent) ; Polčák, Josef (vedoucí práce)
Tato diplomová práce se zabývá metodologií určení tloušťky tenké vrstvy pomocí rentgenového záření stříbrné anody, která poskytuje záření o energii 2984,3 eV. Tato, oproti standardní hliníkové anodě, přibližně dvojnásobná hodnota energie přináší možnost zkoumat ve spektru nové čáry s vyšší vazebnou energií, a také vzhledem k vyšší energii emitovaných fotoelektronů i větší informační hloubku. Pro získání správných výsledků bylo nejprve potřeba provést kalibraci spektrometru Kratos Axis Supra v režimu stříbrné anody a získat potřebnou podobu trasmisní funkce. Samotné určení tloušťky tenké vrstvy bylo provedeno pomocí srovnání poměru intenzit různých čar fotoelektronového spektra s teoretickým modelem. Konkrétně bylo využito peaků Si 1s a Si 2p vázaných v substrátu ve vazbě Si-Si, případně v tenké oxidové vrstvě ve vazbě Si-O. Výsledky ukazují, že pro určení tloušťky tenké vrstvy SiO2/Si je nejlepší využít poměr intenzit pouze jednoho peaku. Stříbná anoda ovšem přináší výhodu ve větší informační hloubce.
|
|
|
Tištěné chemické sensory UV záření
Fanglová, Michaela ; Čeppan, Michal (oponent) ; Veselý, Michal (vedoucí práce)
Cílem bakalářské práce bylo připravit fotocitlivou vrstvu reagující změnou barvy na dávku ozáření a provést kalibraci připravených dozimetrů na požadované hodnoty dávky ozáření v oblasti UVB záření. Bakalářská práce pojednává o světelných dozimetrech, jejichž základem je fotochemická reakce probíhající v tenké tištěné polymerní vrstvě. Předmětem experimentálního studia byla příprava a nanášení fotocitlivých kompozic. Připravené kompozice dozimetrů byly vystaveny různé dávce UVB záření a následně byla sledována jejich barevná odezva na osvit.
|
|
| |
|
|
Studium kinetiky fotochemických reakcí v tenké tištěné polymerní vrstvě
Rudická, Andrea ; Čeppan,, Michal (oponent) ; Veselý, Michal (vedoucí práce)
Tato diplomová práce pojednává o studiu kinetiky fotochemických reakcí v tenké tištěné polymerní vrstvě. Experimentální část se zabývá přípravou a nanesením vrstev. Připravené vrstvy byly exponovány a následně studovány jejich barevné odezvy na osvit. Cílem práce bylo připravit fotocitlivou vrstvu s výraznou barevnou změnou mezi jednotlivými dávkami záření, zlepšit mechanickou odolnost vrstev, regulovat citlivost kompozice vůči UVB záření a prostudovat kinetiku využité fotochemické reakce.
|
|
|
Studium tloušťky tenkých vrstev organických materiálů
Hegerová, Lucie ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá stanovením tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev organických filmů s použitím obrazové analýzy. V teoretické části jsou popsány principy metod, které jsou používány k přípravě tenkých vrstev (rotační nanášení, inkoustový tisk, vakuové napařování), vlastnosti tenkých vrstev, způsoby zjišťování tloušťky a indexu lomu látek (metody váhové, metody elektrické, metoda založená na měření koeficientu absorpce světla, interferenční mikroskopie, elipsometrie) a také obrazová analýza (harmonická a waveletová analýza) Pro stanovení tloušťky a indexu lomu byl použit interferenční mikroskop Epival – Interpako (Carl Zeiss Jena) v kombinaci s digitálním fotoaparátem Nikon Coolpix 5400 a počítačem. Byly určeny tloušťky vrstev z interferenčních obrazců hran a rýh a to jak ze strany kovového kontaktu tak i ze strany podložního sklíčka. Ze získaných hodnot byly určovány indexy lomu tenkých vrstev. V závěru práce jsou diskutovány výsledky interferenčních obrazců fotografovaných po celé délce hliníkového kontaktu určeném pro měření elektrických vlastností struktur s DPP. Výsledkem jsou pak tloušťky jednotlivých vrstev struktury (indexy lomu).
|
|
|
Studium disperzních závislostí indexu lomu pomocí interferenční mikroskopie
Schmiedová, Veronika ; Veselý, Michal (oponent) ; Zmeškal, Oldřich (vedoucí práce)
Diplomová práce je zaměřena na studium optických vlastností tenkých transparentních vrstev organických materiálů (PPV, P3HT, TiO2, DPP), především na stanovení disperzních závislostí indexu lomu připravených vrstev. V teoretické části jsou popsány principy nanášení tenkých vrstev analyzovaných materiálů a jejich vlastnosti. Jsou zde také popsány metody měření optických vlastností (optická a interferenční mikroskopie, elipsometrie). Pro stanovení indexu lomu byl použit interferenční mikroskop v kombinaci s digitálním fotoaparátem. Ke stanovení parametrů byla využita obrazová analýza dat (pomocí programu HarFA). Byly analyzovány snímky tenkých vrstev zhotovené jak ze strany kovového kontaktu, tak ze strany skla. V závěru jsou popsány výsledky indexů lomu tenkých vrstev získaných z naměřených hodnot.
|
|
|
Funkční organicko-anorganické nanostruktury
Kelíšek, Petr ; Zmeškal, Oldřich (oponent) ; Čech, Vladimír (vedoucí práce)
Diplomová práce se zabývá přípravou vrstevnatých organicko-anorganických nanostruktur pomocí technologie PECVD a analýzou optických vlastností těchto vrstev pomocí spektroskopické elipsometrie. Teoretická část práce se zabývá popisem tenkých vrstev, vrstevnatých a gradientních multivrstev, plazmochemickou depozicí z plynné fáze a principy spektroskopické elipsometrie. V experimentální části jsou popsány použité materiály a chemikálie, dále je kompletně popsána aparatura použitá k přípravě vzorků vrstev a postup přípravy vzorků. Výsledková část práce sestává z metodiky přípravy materiálových modelů nezbytných pro elipsometrická měření a vyhodnocení optických vlastností deponovaných nanovrstev.
|
host ::
RSS.